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RM3545可用于線圈或線路電阻、高電阻測(cè)量，測(cè)量源最大DC 1A，最快測(cè)量速度為2.2ms，最高精度為0.01 μΩ，支持20處多點(diǎn)測(cè)量。（最新升級(jí)款機(jī)型為RM3545A）

RM3545A最新配備1000 µΩ 量程，最小分辨率 1 nΩ。基本精度0.006%，最大測(cè)量電流1A。

MICROTEST 6632(S)系列阻抗分析儀提供10Hz-50MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)、ε(相對(duì)介電常數(shù))、μr(相對(duì)導(dǎo)磁系數(shù))，支持Meter模式和掃描分析模式。

MICROTEST 6621系列LCR測(cè)試儀提供10Hz～30MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)。