MICROTEST 6621系列LCR測(cè)試儀提供10Hz～30MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)。
更新時(shí)間：2025-07-02
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品型號(hào)：
MICROTEST 6630系列提供10Hz-50MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)、ε(相對(duì)介電常數(shù))、μr(相對(duì)導(dǎo)磁系數(shù))，最快3mS的測(cè)量速度是電感自動(dòng)化測(cè)試機(jī)的合適選擇。
更新時(shí)間：2025-07-02
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品型號(hào)：
MICROTEST 6360系列提供20kHz/100kHz/500kHz/1MHz測(cè)量頻率，測(cè)量參數(shù)包括|Z|（阻抗）、|Y|（導(dǎo)納）、θ（相位角）、X（電抗）、R（串并聯(lián)電阻）、G（電導(dǎo)）、B（電納）、L（電感）、D（損耗因數(shù)）、Q（品質(zhì)因數(shù)）、DCR（直流電阻）、C（電容），支持RS-232、Handler、LAN、USB Host、Handler通訊接口，可通過USB存儲(chǔ)測(cè)試畫面與數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間：2025-07-01
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品型號(hào)：
MICROTEST 6365A/6367A LCR測(cè)試儀提供0.1Hz-200k/1MHz頻率范圍，可用于電化學(xué)阻抗或電池材料測(cè)試。其極低起始頻率從0.1Hz開始，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)。
更新時(shí)間：2025-07-01
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品型號(hào)：
